更新時(shí)間:2024-03-20
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廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
城市:北京市
品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 石油,能源 |
ILT 5000 SED005WBS320W紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測(cè)量系統(tǒng)
紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測(cè)量系統(tǒng)的研究
光學(xué)分析的10多個(gè)進(jìn)制單位的動(dòng)態(tài)范圍
Pico-ammeter:10fA至1mA(從100fA至1mA校準(zhǔn))
無(wú)線通信:內(nèi)置
用戶控制或自動(dòng):范圍、規(guī)零/暗零、采樣率
4-20 mA輸出
15針D Sub和SMA輸入端口
“Set it & Forget It”遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)記錄
電源:USB或內(nèi)置充電電池組
多系統(tǒng)同時(shí)連續(xù)監(jiān)測(cè)
包括DataLight II軟件和Labview采樣代碼
NIST可追溯/ISO17025認(rèn)證校準(zhǔn)
采樣率高達(dá)100 Hz,可編程
ILT 5000 SED005WBS320W紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測(cè)量系統(tǒng)描述:
紫外敏感危害探測(cè)器設(shè)計(jì)為在250至400 nm的寬紫外波段上具有高靈敏度,用于紫外敏感危害研究
測(cè)量
測(cè)量范圍:2.33e-8至2.33e+0 W/cm2
光譜范圍:250–400 nm
配置:ILT5000*,SED005/WBS320/W(探頭)
*包括軟件
應(yīng)用:該檢測(cè)器經(jīng)過(guò)特殊配置,可準(zhǔn)確測(cè)量穿過(guò)UV波段的寬波部分,用于總UV靈敏度危險(xiǎn)監(jiān)測(cè)。
濾光片和輸入光學(xué)元件是可拆卸的,可以與探測(cè)器組件分開(kāi)購(gòu)買,以允許濾光片和輸入光學(xué)元件互換。
注:配置中不含圖片中的平板電腦。